159-0186-4404
Unique Microelectronics (Hongkong)Limited
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接触式测厚仪
系统操作非常简单，在其整个10mm（0.4“）测量范围内的精度为1μm（0.00004”)。
在1mm（0.04“）范围内使用时，例如与测量块一起作为比较器，测量探头优异的重复性和线性度提供了0.1μm（0.000004”）的测量精度
这种高精度结合在0.6-0.9N范围内的低测量力，使该系统非常适合于涉及半导体、光学和电光学材料加工的许多测量应用。
测量范围：可用于12寸样品
