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华微电子(香港)有限公司

Unique Microelectronics (Hongkong)Limited

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GI20

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  • 产品说明

干涉仪

研磨或抛光样品的高精度平整度测量

测量2μm,清晰度极佳

表面粗糙度测量从1nm到300nmRa


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